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Site de la
métrologie sans contact au
lycée Mermoz pour la licence pro Qualité-Métrologie.
| Cours-TD n°1 : n'aura pas lieu en 2017/18 lumière, interférences, importance du capteur et de la source pour voir
les interférences (fonction d'appareil), principe du mode VSI du microscope
interférentiel. |
intro lumière ,
corps noir,
interf_2ondes.xls ,
Michelson.xls ,
Rayonnement_CN_interf.xls ,
microinterf.xls ,
TD1.pdf |
Mise à jour : 22/09/14 |
| Cours-TD n°2 : n'aura pas lieu en 2017/18 Diffraction. Formation et
traitement des images. Optique de Fourier. |
trous ,
réseaux ,
photos ,
intro diffraction ,
TD2.pdf |
Mise à jour : 22/09/14 |
| Cours-TD n°3 1ère partie : mardi 26/09/17 à 11h. Profilométrie
par projection de franges (Moiré) : principe du mode PSI du microscope
interférentiel, interférométrie de speckle. |
TD3.pdf , images
obj-ref ,
moire.xls , TD3_images ,
speckle.xls |
Mise à jour : 22/09/14 |
| Cours-TD n°3 2ème partie : mardi 26/09/17 à 13h45. Interférométrie
de speckle, shearographie. |
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| Devoir d'examen |
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